静电电荷如何造成损害（检测仪相关）
当这些静电荷与电子设备接触时，就会损坏组件。电流随着电荷沿器件的导电电路移动而流动，并且电荷的通常非常高的电压水平使集成电路的精密迹线过热，使它们熔化甚至蒸发其中的一部分。当通过显微镜检查时，由电引起的损坏- 静电放电看起来很像散落在组件电路景观中的微小炸弹坑。
将表中的值进行快速比较，列出了检测仪器件的敏感性水平，这说明了为什么《半导体可靠性新闻》估计大约 60% 的器件故障是由静电损坏造成的释放。
可能会发生具有潜在破坏性的静电放电：
• 任何时候带电表面（包括人体）对设备放电。即使是手指简单地接触敏感设备或组件的引线，也会产生足够的放电而造成损坏。带电的导电物体（例如金属工具或固定装置）也会发生类似的放电。
• 当敏感设备上积累的静电荷从设备释放到另一个表面时，例如包装材料、工作表面、机器表面或其他设备。在某些情况下，带电设备放电可能是 很具破坏性的。
一个典型的例子是将电子组件安装到它所运行的设备的连接器或线束中的简单操作。如果组件带有静电荷，当它接地时，就会发生放电。
• 每当将敏感设备移动到现有静电场的场中时，设备上可能会感应出电荷，从而将电场有效地释放到设备上。如果器件在静电场内瞬间接地或从静电场区域移开并在其他地方接地，则当电荷从器件转移到地时将发生第二次放电。
